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半导体(导带价带禁带)
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如何测量材料的能级，也就是导带和价带具体的位置？
做TiO2光催化剂的，想知道怎么测量材料导带和价带的具体位置？
有听说过循环伏安法可以测量有机材料的HOMO LUMO ，这个对无机材料又适用么？
文献中有看到一个Mott-Schottky曲线测量的，这个跟循环伏安法有什么本质的区别与联系？
循环伏安可以，不过曲线不好的话分析起来难度很大，你可以扫一个试试，MS曲线如果体系很成熟的话还是很靠谱省事的，不过需要个好的工作站，否则重复性不好，其他的就UPS，还有紫外可见光谱一类的，给出信息角度不太一样，不过都和能级有关 : Originally posted by gxytju2008 at
循环伏安可以，不过曲线不好的话分析起来难度很大，你可以扫一个试试，MS曲线如果体系很成熟的话还是很靠谱省事的，不过需要个好的工作站，否则重复性不好，其他的就UPS，还有紫外可见光谱一类的，给出信息角度不太 ... 循环伏安法具体是应该怎么分析测试喃？你能不能给点相应的文献或者资料之类的？
MS曲线是也用电化学工作站测量吗？
紫外可见光谱应该是只能测量出带宽吧？导带和价带的具体位置这个也能得出么？ : Originally posted by sophia1723 at
循环伏安法具体是应该怎么分析测试喃？你能不能给点相应的文献或者资料之类的？
MS曲线是也用电化学工作站测量吗？
紫外可见光谱应该是只能测量出带宽吧？导带和价带的具体位置这个也能得出么？... 具体咋测你得查查对你这种物质的文献，测不难，难的是怎么解释怎么取点算，不同物质不太一样的，MS当然是工作站测的，但这相当于交流方法，对仪器要求比较高，20w以上的进口工作站可以用了，UV确实只能测带宽，这些方法都是每个只能给出一部分信息的 【求助】如何测量材料导带与价带能级？
http://emuch.net/html/4144.html导带、价带、禁带_百度文库
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