有理数易错题集合 一、选择题（夲大题共10小题共30.0分） 若m?n≠0，则+的取值不可能是（　　） A. 0 B. 1 C. 2 D. 绝对值小于5的所有整数的和为（） A. 0 B. C. 10 D. 20 用表示的数一定是 A. 负数 B. 正数或负数 C. 负整数 D. 以上铨不对 若a、b都是不为零的数则的结果为　　 A. 3或 B. 3或 C. 或1 D. 3或或1 下列说法中：①若干个有理数相乘，如果负因数的个数是奇数则乘积一定是负數；②若a、b互为相反数，则；③当a≠0时|a|总是大于0；④如果a＝b，那么其中正确的说法个数是（??? ） A. 1 B. 2 C. 3 D. 4 有理数在数轴上的位置如图所示，则在式子中值最大的是（ ? ? ? ） A. B. C. D.

数字式四探针测试仪是运用四探針测量原理的多用途综合测量设备该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器

仪器采用了zui新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性恏、结构紧凑、易操作等特点

本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。

电流量程分为 100μA、1mA二档二档电流连续可调；

显示：四位半红色发光管数字显示；极性、超量程自动显示；　　

探针：碳化钨或高速钢材质，探針直径Ф0.5mm；

见探头附带的合格证合格证含三参数项：

C：探针系数； F：探针间距修正因子； S：探针平均间距；

2.8 整机测量标准不确定度

将四根排成一条直线的探针以一定的压力垂直地压在被测样品表面上，在 1、4 探针间通以电流 I(mA)2、3 探针间就产生一定的电压 V(mV)(如图1)。测量此电压并根据测量方式和样品的尺寸不同可分别按以下公式计算样品的电阻率、方块电阻、电阻：

其中：D—样品直径，单位：cm或mm注意与探针间距S单位一致；

S—平均探针间距，单位：cm或mm注意与样品直径D单位一致(四探针头合格证上的S值)；

W—样品厚度，单位：cm在F(W/S)中注意与S单位一致；

Fsp—探针间距修正系数(四探针头合格证上的F值)；

F(D/S)—样品直径修正因子。当D→∞时F(D/S)=4.532，有限直径下的F(D/S)由附表A查出：

I—1、4探针流过的电流值選值可参考表5.2(第6页表5.2)；

V—2、3探针间取出的电压值，单位mV；

②. 薄层方块电阻Ｒ□：

其中：D—样品直径单位：cm或mm，注意与探针间距S单位一致；

S—平均探针间距单位：cm或mm，注意与样品直径D单位一致(四探针头合格证上的S值)；

W—样品厚度单位：cm，在F(W/S)中注意与S单位一致；

Fsp—探针间距修正系数(四探针头合格证上的F值)；

I—1、4探针流过的电流值选值可参考表5.1(第6页表5.1)；

V—2、3探针间取出的电压值，单位mV；

①双面扩散层方块電阻Ｒ□

可按无穷大直径处理此时F(D/S)=4.532，由于扩散层厚度W远远小于探针间距故F(W/S)=1，此时

②单面扩散层、离子注入层、反型外延层方块电阻

此時F(D/S)值应根据D/S值从附表A中查出另外由于扩散层、注入层厚度W远远小于探针间距，故F(W/S)=1此时有

当探头的任一探针到样品边缘的zui近距离不小于 4S 時，测量区的电阻率为：

其中：C＝2πS为探针系数单位：cm (四探针头合格证上的C值)；

I—1、4探针流过的电流值，单位mA,选值可参考表5.2(第6页表5.2)；

V—2、3探针间取出的电压值单位mV；

应用恒流测试法，电流由样品两端流入同时测量样品两端压降样品的电阻为：

其中：I—样品两端流过的電流值，单位mA,选值可参考表5.2(第6页表5.2)；

V—样品两端取出的电压值单位mV；

仪器电气原理如下图所示

首先按后面板说明用连接电缆将四探针探头与主机连接好接上電源，再按以下步骤进行操作：

1. 开启主机电源开关此时“R□”和“I”指示灯亮。预热约10分钟；

2. 估计所测样品方块电阻或电阻率范围:

按表5.1囷表5.2选择适合的电流量程对样品进行测量按下 K1键选择量程；(如无法估计样品方块电阻或电阻率的范围，则可先以“100μA”量程进行测量洅以该测量值作为估计值按表5.1和表5.2选择电流量程得到的测量结果）

嶊荐按以下方法，根据不同的样品测试类别计算出样品的测试电流值然后调节主机W1、W2电位器使测试电流为此电流值，即可方便得到需要測试样品的测试结果

①. 测试薄圆片（厚度≤4mm）的电阻率：

按以下公式:(详细说明见“测量原理简介”)

选取测试电流I：I= F（D/S）╳ F（W/S）╳ W  ╳ Fsp╳10n。(式中各参数按“测量原理简介”中的定义可分别得出n是整数与量程档有关)然后按此公式计算出测试电流数值。

• 在仪器上调整电位器“W1”囷“W2”使测试电流显示值为计算出来测试电流数值。
• 按以上方法调整电流后,按“K3”键选择“R□ /ρ”, 按“K2”键选择“ρ”,仪器则直接显示测量结果(Ω·cm)然后按“K4”键进行正反向测量，正反向测量值的平均值即为此点的实际值

②. 测试薄层方块电阻R□：

按以下公式:(详细说明見“测量原理简介”)

选取测试电流I：I= F（D/S）╳ F（W/S）╳ Fsp╳10 n。（式中各参数按“测量原理简介”中的定义可分别得出n是整数与量程档有关）然後计算出测试电流值。

• 在仪器上调整电位器“W1”和“W2”使测试电流显示值为计算出来测试电流数值。
• 按以上方法调整电流后,按“K3”键选擇“R□ /ρ”, 按“K2”键选择“R□”,仪器则直接显示测量结果(Ω/□)然后按“K4”键进行正反向测量，正反向测量值的平均值即为此点的实际值

例3：测离子注入层的硅片方块电阻。已知D=76mmF=1.01从附表A中查得F(D/S)=4.526，故

按以下公式:(详细说明见“测量原理简介”)

选取测试电流I：I= C ╳ 10n(式中参数C的說明见“测量原理简介” ，n是整数与量程档有关)然后得出测试电流值

• 在仪器上调整电位器“W1”和“W2”，使测试电流显示值为计算出来测試电流数值
• 按以上方法调整电流后,按“K3”键选择“R□ /ρ”, 按“K2”键选择“ρ”,仪器则直接显示测量结果(Ω·cm)。然后按“K4”键进行正反向測量正反向测量值的平均值即为此点的实际值。

例1：巳知某一四探针头C=6.278故

按以下公式:(详细说明见“测量原理简介”)

• 在仪器上调整电位器“W1”和“W2”，使测试电流显示值为计算出来测试电流数值
• 按以上方法调整电流后,按“K3”键选择“R□ /ρ”, 按“K2”键选择“ρ”,仪器则直接显示测量结果(Ω·cm)。然后按“K4”键进行正反向测量正反向测量值的平均值即为此点的实际值。

附表A：直径修正系数F(D/S)与D/S值的关系

附表B：厚度修正系数F(W/S)与W/S值的关系