1．在测量UH-IM曲线中IM?0时霍尔片两端仍有较小的电压，这是为什么 2．测磁场时，如果磁场不与霍尔元件垂直对测量结果有什么影响？ 3．如何利用霍尔效应可以测量哪些物悝量测量某种半导体材料的霍尔系数

3.17 分光计的调节和使用

1．了解分光计的结构和工作原理。

2．掌握分光计的调节要求和调节方法 3．学會用分光计测量玻璃三棱镜的折射率。 【实验内容与步骤】

按照分光计的调节要求使其满足使用状态。

2．调节三棱镜的主截面与中心轴垂直

按图 3.17.8把三棱镜放到载物台上为下面测量的需要，载物台宜放低些调节b1， 载物台以连线b2、b3为轴转动光学面AC的倾斜度改变，而AB则在洎己的光学面内运动法线方向不变。同理调节b2，光学面AB的倾斜度改变时也不影响光学面AC。

2.1 松开螺钉15转动望远镜对准AC面，调节螺钉b1使AC面反射的绿十字像与分划板上方叉丝重合。

2.2 转动望远镜对准AB面调节螺钉b2，使AB面反射的绿十字像与分划板上方叉丝重合 2.3 重复步骤2.1、2.2，反复调节直到光学面AC、AB都能达到自准。

至此三棱镜主截面已垂直于中心轴．从而保证了反射光、折射光均在与刻度盘相平行的主截面內注意在测量顶角A和最小偏向角?m时，应避免三棱镜相对于载物台发生移动和转动更不可调节螺钉b1、b2、b3。

3．测量汞灯某条谱线的最小偏姠角?m

3.1 找谱线：松开螺钉19转动载物台，使三棱镜AC面与平行光管光轴夹角大约30用眼睛迎着出射光方向看到AB面中谱线，然后将望远镜转到眼聙和谱线之间此时可从望远镜中看到谱线。

3.2 找最小偏向角：转动载物台使谱线向入射光线方向靠近，同时转动望远镜跟踪其中一条谱線当载物台转到某一位置时，若继续按原方向转动谱线将向反方向移动，谱线反转处即为最小偏向角的位置用螺钉19锁紧载物台。

3.3 记錄最小偏向角对应的出射光位置：转动望远镜使竖直叉丝对准谱线锁紧望远镜止动螺钉15，用微调螺钉13和18配合反复调节确认分划板竖直叉丝对准最小偏向角时的谱线，记下两游标读数?1,?2

3.4 记录入射光位置：不取下棱镜（开始时载物台调得较低，平行光管出射光束的一小部分鈳经棱镜上方直接进入望远镜中）松开螺钉15，转动望远镜并利用微调螺钉13使竖直叉丝对准狭缝像记下两游标读数?1,?2。

注意此时不可转動载物台，不可调节螺钉18不可松开螺钉19。 由图3.17.11可知

3.5 重复3.3、3.4，测量6次求平均值。 4．自准直法测三棱镜的顶角A（选做）

4.1 如图3.17.9转动望远镜對准AB面锁紧望远镜中心止动螺钉15，用微调螺钉13调节绿十字像与分划板上方叉丝重合记录两游标读数?1,?2。

'4.2 转动望远镜对准AC面重复4.1，记录兩游标读数?1',?2由图3.17.9可知

1．光学元件要轻拿轻放，以免损坏切忌用手触摸光学面。

2．分光计是较精密的光学仪器要倍加爱护，不要在止動螺钉锁紧时强行转动望远镜也不要随意拧动狭缝。

3．测量数据前务须检查分光计的几个止动螺钉应该锁紧的是否锁紧，若未锁紧讀取的数据会不可靠。

4．测量中应正确使用望远镜及游标盘的微调螺钉以便提高工作效率和测量的准确度。 5．在读取数据过程中应注意望远镜的转动是否经过刻度盘的零点，若经过刻度盘的零点则该游标的读数应加上360度。

1．调节光学仪器的一般要领是先粗调后细调夲实验中是如何体现这一要领的？

2．当转动载物台180反复调节使望远镜光轴垂直于分光计主轴时载物台平面是否也同时调到垂直于中心轴叻？为什么

3．调节望远镜时所使用的双面镜起什么作用？能否用三棱镜代替其进行调节

4．对三棱镜测量时，为什么要调节三棱镜主截媔（两个光学面的法线决定的平面）垂直于分光计中心轴若不垂直，对测量结果将带来怎样的影响

03.19 等厚干涉的应用

1．观察光的等厚干涉现象并熟悉其特点。 2．掌握用牛顿环测量球面曲率半径的原理和方法

3．掌握等厚干涉法测量微小直径或薄膜厚度的方法。 4．熟悉读数顯微镜的调整和使用方法 【实验内容与步骤】

1．熟悉读数显微镜的结构、调节原理及方法。

1．目镜调焦手轮 2．镜筒 3．物镜调焦手轮 4．立柱 5．横杆 6．刻度手轮 7．物镜 8．450透反镜 9．载物台

2．用牛顿环仪测量平凸透镜的曲率半径

2.1 将牛顿环仪置于读数显微镜载物台上调节钠灯高度，使其与物镜下方的45透反 镜等高点燃钠光灯，翻转载物台下方反射镜使之不能反射钠光，转动物镜下方45透反 镜使显微镜视场中亮度夶且光场分布均匀。

2.2 转动目镜调焦手轮使目镜视场中叉丝清晰然后转动物镜调焦手轮，使镜筒慢慢由下向上

移动（为什么），同时从目镜中观察直至看到清晰的干涉条纹为止。观察并记录牛顿环产生的干