97材料分析测试技术习题-第13页
上亿文档资料，等你来发现
97材料分析测试技术习题-13
3又∵2?sin2??2h2?k2?l24a；取Θ=21.89°,查得CuKα的波长λ=0.1；带入上式可得；点阵常数α=3.58nm??；5.X射线多晶衍射，实验条件应考虑那些问题？结合；答：实验条件应考虑问题：；（1）选择试验条件如选靶、选滤波片、管电压电流等；（2）选光阑尺寸、扫描速度、时间常数；（3）进行试样制备；（4）选择试验方法；实验方案：；（1
3又∵ 2? sin2??2h2?k2?l2 4a取Θ=21.89°, 查得Cu Kα的波长λ=0.1541nm , h=1 , l=1 , k=1带入上式可得点阵常数 α=3.58nm ?? 5.X射线多晶衍射，实验条件应考虑那些问题？结合自己的课题拟定实验方案。 答：实验条件应考虑问题：（1）选择试验条件如选靶、选滤波片、管电压电流等（2）选光阑尺寸、扫描速度、时间常数（3）进行试样制备（4）选择试验方法实验方案：（1）试样的制备衍射仪一般采用块状平面试样，可以用粉末压制而成或者直接使用整块的多晶体。（2）测试参数选择。（3）衍射数据的采集。（4）在分析工作中充分利用有关待分析物的化学、物理、力学性质及其加工等各方面的资料信息，进行物相检索。（5）得出结论。 6.衍射谱标定方法与注意事项有那些？ 答：一，X射线衍射：A.采用照相法常用四方晶系的指数标定。（1）立方晶系指数标定，由sin2?1:sin2?2:sin2?3:...?m1:m2:m3:...算得个m的比值然后查表对照可确定干涉指数。（2）正方晶系与六方晶系衍射花样指数标定，常用赫尔－戴维图进行指数标定。 注意事项：照相法往往存在较大误差！B.衍射仪法，由于直接给出角度和所对应峰的强度，常常采用3强线来标定，通过PDF卡来确定物相。注意事项：实验条件影响衍射花样，对照检索PDF卡时要综合考虑，另外PDF卡有时不能给出唯一答案，需要进一步验证。 二，电子衍射花样的标定：A.单晶电子衍射花样的标定主要采用尝试－核算法与标准花样对照法。注意事项：（1）尝试－核算法由于已知条件的不同，衍射花样的标定也是不相同的（2）标准花样对照法简单但不易行，需要很好的经验和判断能力，另外标准花样往往不能满足标定工作的需要（3）对两种方法我们都应当注意耦合不唯一性（180不唯一性），应注意消除。（4）复杂单晶衍射花样的标定主要是高阶劳厄斑点和菊池花样可类比零阶劳厄区斑点区别对待。B.多晶电子衍射花样的标定，即确定花样中各衍射圆环对应的干涉指数与多晶XRD相似。测量出R值比较查表确定各圆环。注意事项：测量R值的准确性可通过测D＝2R,相对减小误差 7.现代分析型电镜具有那些功能？如何在材料微观分析中运用这些功能？ 答: 现代分析电镜主要指透射电子显微镜及其外围分析设备。简称分析型透射电镜,AEM。其主要功能除进行形貌观察、衍衬分析外，还能够利用能谱仪、电子能量损失谱进行成分分析。还可以利用相应的样品台，在透射电镜中作原位观察、加热相变观察、冷却相变观察和拉伸试验。会聚束电子衍射也是分析型电子显微镜的附加功能。 8.电子衍射与X射线衍射有那些区别？可否认为有了电子衍射分析手段，X射线衍射方法就可有可无了？ 答：电子衍射与X射线衍射一样，遵从衍射产生的必要条件和系统消光规律，但电子是物质波，因而电子衍射与X射线衍射相比，又有自身的特点：(1)电子波波长很短，一般只有千分之几nm，而衍射用X射线波长约在十分之几到百分之几nm，按布拉格方程2dsinθ=λ可知，电子衍射的2θ角很小，即入射电子和衍射电子束都近乎平行于衍射晶面；(2)由于物质对电子的散射作用很强，因而电子束穿透物质的能力大大减弱，故电子只适于材料表层或薄膜样品的结构分析；(3)透射电子显微镜上配置选区电子衍射装置，使得薄膜样品的结构分析与形貌有机结合起来，这是X射线衍射无法比拟的特点。但是，X射线衍射方法并非可有可无，这是因为：X射线的透射能力比较强，辐射厚度也比较深，约为几um到几十um，并且它的衍射角比较大，这些特点都使X射线衍射适宜于固态晶体的深层度分析。 9.如何进行一未知晶体结构的电子衍射花样标定？如何增加标定的正确性？ 答: 晶体未知分两种情况:1)晶体虽未知,但根据研究对象可能确定一个范围，可在这些晶体中进行尝试标定。2）晶体点阵完全未知，是全新结构。此时要通过标定衍射图，来确定该晶体的结构及其参数。所用方法较复杂，一般很少涉及到。因此主要讨论情况1）为了标定的准确,应该注意以下事项:1）认真制备样品，薄区要多，表面没有氧化。2）正确操作电镜，如合轴、选区衍射操作等。3）校正仪器常数。 ?4）要在底片上测量距离和角度。长度测量误差小于±0.2mm，（或相对误差小于3―5%），角度测量误差±0.2°，尚需注意底片药面是朝上放置的。 方法一:未知晶体结构的标定1（尝试是否为立方）1.由近及远测定各个斑点的R值。222222.计算Ri值，根据 R1：R2：R3：??Rnn = N1：N2：N3：??Nn关系，确定是否为立方晶体。3.由N求对应的{hkl}。4.测定各衍射斑之间的?角5.决定透射斑最近的两个斑点的指数（ hkl ）6.根据夹角公式，验算夹角是否与实测的吻合，若不，则更换（ hkl ）7.两个斑点决定之后，第三个斑点为R3=R1+R2。8.由g13g2求得晶带轴指数。 方法二:晶体结构的标定21.由近及远测定各个斑点的R值。2.根据衍射基本公式R=?L/d求出相应晶面间距3.查ASTM卡片，找出对应的物相和{hkl}指数4.确定(hkl)，求晶带轴指数。10.欲对一微小区域（um,nm量级）进行成分分析，在操作方法上可以通过那些手段进行定量和定性分析？又如何去尽量保证分析的准确性？ 答：进行微区成分分析，操作上首先是将电子束会聚成细焦点，并估计梨形区的最大范围。在透射电镜上，试样的区域越薄，电子束扩散的范围越小，照射区域越准。如果分析的是样品中细小析出相，分析穿孔边缘的小颗粒可以少受基体影响，分析精度更高。通过萃取复型方法分析析出相精度最高。 11.标定下图电子衍射花样，叙述衍射花样的标定程序（步骤）。图中OA=10.2mm， OB=10.2mm，OC=14.4mm 解：计算R2/R1，R3/R1的比值，得1.0，1.411；由图知R2与R1的夹角是90度。查附得：R1=（110），R2=（-110），[uvw]=[001]。体心立方晶格，a=(h+k+l)3d =1.41432.05/10.2=0.284nm. 12.单晶体电子衍射花样的标定中存在180o不唯一性的问题，什么情况下需要消除180o不唯一性的问题？有哪些方法可以帮助我们消除180o不唯一性的问题？答：在电子衍射图中将衍射斑点的指数hkl与衍射斑点hkl的指数进行对换，这个指数对换的结果将入射电子束的方向从[uvw]变成了[uvw]，它对于衍射斑点的对称性和指标化的自恰性无影响。结果相当于将入射电子束的方向旋转了180°，因此电子衍射图存在180°的不唯一性的问题。尽管实际晶体沿电子束入射方向可能并没有二次旋转对称性，但沿相反的方向入射电子束能得到相同的电子衍射图。出现这种不唯一性的原因是电子衍射图本身附加了一个二次旋转对称；实际晶体沿电子束方向具有二次旋转对称，两套标定指数是完全等价的，无需区别它们。当晶体沿电子束方向没有二次旋转对称时，两套标定指数代表了两种不同的取向；两种电子衍射图可以绕[uvw]方向旋转180°后重合；实际晶体如果没有沿[uvw]方向的二次旋转对称，经过这种180°旋转是不能重合的；它们代表两种不同的晶体取向。180°不唯一性是不能从一个晶带的电子衍射图得到解决的；由于反射球面的弯曲，或者晶体的翘曲，在一张电子衍射图中出现两个相邻晶带的电子衍射图，可能消除这种180°不唯一性；用高阶劳厄斑、利用双晶带及试样的倾转，可以消除这种180°不唯一性。 13.试探法描绘倒易点阵面的依据是什么？应注意哪两种情况？绘出面心立方（fcc）晶体（421）*倒易截面，并详述步骤。 答：试探法描绘倒易点阵面的依据的依据便为晶带定律：r2g =0，狭义晶带定律，倒易矢量与r垂直，它们构成过倒易点阵原点的倒易平面 r2g＝N，广义晶带定律,倒易矢量与r不垂直。这时g的端点落在第非零层倒易结点平面。应注意以下两种情况：第一是各倒易阵点和晶带轴指数间必须满足晶带定理，即hu+kv+lw=0，因为零层倒易截面上各倒易矢量垂直于它们的晶带轴；第二是只有不产生消光的晶面才能在零层倒易面上出现倒易阵点。二维倒易面的画法
以面心立方 (421)*为例：.1 利用晶带定律，用试探法找到一个倒易点阵(h1k1l1)=（2 -2 -4）h1u+k1v+l1w =4*2-2*2-1*4=0
满足晶带定律注意：（1）fcc点阵的衍射指数应为全奇全偶（2）试探的点阵指数应越低越好.2 找到另一倒易点阵(h1k1l1)使得求g2⊥g1且g2⊥[4 2 1],有
h2-k2-2l2=04h1+2k1+l1=0；解得h2：k2：l2=1：-3：2但在fcc点阵中 (1 C3 2)是禁止衍射（结构消光）的点 取(c)= (2 C6 4)； .3 求出两点阵点(h1k1l1)和(h2k2l2)的倒易矢量比；222-1/2 根据立方晶系中晶面间距公式 d=a*(h+k+l)1/2 1/21/21/2则gh1k1l1:gh2k2l2=d2:d1=(4+4+16):(4+36+16)=3:7.4 以gh1k1l1:gh2k2l2为直角三角形两直角边其端点分别为（2 -2 -4）、(2 C6 4)构成长方形 根据矢迭加原理作图重复最小单元即可 如下图显然（4 C8 0）不是一级反射，必须加进（1 C3 3）和（3 C5 C3）倒易点， 重复基本单元就得到(421)*倒易点阵平面。 注意：gh1k1l1和gh2k2l2的取向，应满足i
k2 C6 42 -2 -4的行列式=32i+16j+8k [4 2 1] 14.体心立方（bcc）晶体全位错的柏格斯矢量b=1／2＜111＞，实验中用三个操作反射g1＝(110)， g2＝（101），g3＝（020）获得三幅暗场像如下图所示，试确定各位错A、B、C、D柏格斯矢量矢量的具体值。 ；C、D是1/2[1-11]或1/2[-111]。在第二次操作中，A、C可见，B、D不可见，所以A、C是1/2[111]或1/2[1-11]；B、D是1/2[11-1]或1/2[-111]。由此得A是1/2[111]，B是1/2[11-1]，C是1/2[1-11]，D是1/2[-111]。 包含各类专业文献、生活休闲娱乐、应用写作文书、外语学习资料、行业资料、文学作品欣赏、97材料分析测试技术习题等内容。　
您可在本站搜索以下内容：
　1 2 3 4 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 近代材料分析测试方法习题 Ariy斑如何形成? 简述... 　 材料分析测试技术习题及... 100页 1下载券 《材料分析测试技术》试... 4... 在 X 射线衍射分析中,希望得到单色的入射 X 射线,因此需要将 k 系特征谱线... 　 材料分析测试技术试题2 6页 2下载券材料分析测试技...第一章 1、同种材料经过不同的处理后其性能不变( 2、XRD 可以进行样品表面... 　一、 名词解释题 分辨率 Kα 射线 、景深与焦长 、热重分析 、光谱分析方法...( 线衍射分析方法的技术基础。 材料分析的三个基本方面: ( 光学透镜的像差... 　《材料分析测试技术》试卷(答案) 一、 填空题: (20 分,每空一分) 1. X 射线管主要由 阳极 、 阴极 、和 窗口 构成。 2. X 射线透过物质时产生的物理... 　 材料分析测试技术考试复习题三_理学_高等教育_教育专区。材料分析技术考试复习填空题 1. 透射电镜、扫描电镜、电子探针、扫描燧道显微镜的英文字母缩写分别 是 2.... 　 材料分析测试技术习题及答案材料分析测试技术习题及答案隐藏&& 一、单项选择题 1. 截面上的全应力的方向( ) A、平行于截面 B、垂直于截面 C、可以与截面任意... 　24.扫描电子显微镜分辨率的高低和检测信号种类有关:①分辨率高:二次电子、俄歇电子 ②分辨率低:特征 X 射线。 25.二次电子成像原理:二次电子信号主要用于分析样品... 　山东科技大学
学年第二学期 《材料分析测试技术》考试试卷(A 卷)答案及评分标准一、选择题(每空1分,共15分) 1-5、BBBCB 6-10、ACBCA 11-15、...
别人正在看什么？ 下载
 收藏
该文档贡献者很忙，什么也没留下。
 下载此文档
正在努力加载中...
材料分析方法课后习题答案
下载积分：1000
内容提示：材料分析方法课后习题答案,课后习题答案网,选修44课后习题答案,毛概课后习题答案,微积分课后习题答案,高数课后习题答案,课后习题答案,土力学课后习题答案,运筹学课后习题答案,数学课后习题答案,秋天课后习题答案
文档格式：PDF|
浏览次数：1|
上传日期： 00:32:19|
文档星级：
该用户还上传了这些文档
下载文档:材料分析方法课后习题答案.PDF
官方公共微信扫扫二维码，随身浏览文档
手机或平板扫扫即可继续访问
现代研究方法总结
举报该文档为侵权文档。
举报该文档含有违规或不良信息。
反馈该文档无法正常浏览。
举报该文档为重复文档。
推荐理由：
将文档分享至：
分享完整地址
文档地址：
粘贴到BBS或博客
flash地址：
支持嵌入FLASH地址的网站使用
html代码：
&embed src='/DocinViewer-4.swf' width='100%' height='600' type=application/x-shockwave-flash ALLOWFULLSCREEN='true' ALLOWSCRIPTACCESS='always'&&/embed&
450px*300px480px*400px650px*490px
支持嵌入HTML代码的网站使用
您的内容已经提交成功
您所提交的内容需要审核后才能发布，请您等待！
3秒自动关闭窗口 下载
 收藏
该文档贡献者很忙，什么也没留下。
 下载此文档
正在努力加载中...
材料分析方法第十章电子衍射zx
下载积分：1000
内容提示：第二讲
零层倒易截面及单晶体
电子衍射花样的获得
二 单晶体电子衍射花样的获得
1 前提及获得
使电子束沿某单晶的晶带轴方向入射，在垂直于晶带轴的方向获得电子衍射花样为该晶带中共带面参与衍射的结果，电子衍射斑点为零层倒易面内共带面的倒易点。-----
因此可以说某晶带的电子衍射花样是该晶带标准零层倒易面的比例图像。倒易阵点的指数就是衍射斑点的指数。
由于电子束在镜筒中按螺旋轨迹前进，衍射斑点到物镜的一次像之间有一定距离，电子通过这段距离时会转过一定角度，为磁转角。
可用已知外形的薄片单晶标定。
tem中均有自动补正装置。
单击此处编辑母版标题样式
单击此处编辑母版副标题样式
单击此处编辑母版标题样式
单击此处编辑母版副标题样式
单击此处编辑母版标题样式
单击此处编辑母版副标题样式
单击此处编辑母版标题样式
单击此处编辑母版副标题样式
倒易点阵及爱瓦尔德球图解法
零层倒易截面及单晶体电子衍射花样
电子显微镜中的电子衍射
单晶体电子衍射花样标定
透射电镜的主要作用有两个——组织形貌观察、晶体结构同位分析。
当透射电镜的中间镜物平面和物镜像平面重合（成像操作），在观察屏上
文档格式：PPT|
浏览次数：1|
上传日期： 08:53:57|
文档星级：
该用户还上传了这些文档
下载文档:材料分析方法第十章电子衍射zx.PPT
官方公共微信材料分析方法题_百度文库
两大类热门资源免费畅读
续费一年阅读会员，立省24元！
评价文档：
74页免费10页免费5页免费9页免费11页4下载券 4页7下载券3页免费8页免费12页1下载券3页2下载券
喜欢此文档的还喜欢10页免费9页1下载券5页免费8页免费
材料分析方法题|
把文档贴到Blog、BBS或个人站等：
普通尺寸(450*500pix)
较大尺寸(630*500pix)
你可能喜欢}